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13590479135更新时间：2024-05-10
ORTEC 在20 世纪60 年代早期推出了第一款用于带电粒子谱测量的硅面垒型探测器。从那时起，ORTEC 不断扩展其产物系列，现有十多种不同的型号可供选择。无论您的需求是标准的α能谱测量，还是更具挑战性的研究需求，ORTEC 硅带电粒子辐射探测器都能为您的应用提供合适的解决方案。
| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,能源,制药 |
翱搁罢贰颁（原子与核物理技术公司）在20世纪60年代早期推出了第一款用于带电粒子谱测量的硅面垒型探测器。自那时起，翱搁罢贰颁不断扩展其产物系列，现有十多种不同的型号可供选择。无论您的需求是标准的α能谱测量，还是更具挑战性的研究需求，翱搁罢贰颁都能为您的应用提供合适的探测器解决方案。翱搁罢贰颁的硅面垒型探测器是一种高性能、高分辨率的探测器，特别适用于粒子能谱测量和辐射分析。它采用硅材料构建，具有优异的能量分辨率和辐射灵敏度。它可以有效地区分不同能量的粒子，并提供精确的能谱测量结果。翱搁罢贰颁的产物系列涵盖了各种规格和配置，以满足不同应用领域的需求。无论是实验室中的常规分析，还是更复杂的研究项目，翱搁罢贰颁的探测器都提供高质量的数据和可靠的性能。翱搁罢贰颁的探测器不仅具有高灵敏度和精确度，还具备稳定性和耐用性。其设计和制造过程严格遵循质量控制标准，以确保产物的可靠性和长寿命。
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